平板探测器有共同的和独特的优点，因为它们的尺寸很大，能够快速的照射很大的范围。另外获取图像不需要中间过程，因此很容易集成X射线检测操作系统，平板探测器的动态范围宽、空间分辨率高。非晶硅探测器独特的优点是比非晶硒探测器产生图像的速度快，事实上非晶硅探测器能以很快的速度产生和读取图像，其速度足以被用作动态录像和实时录像。

        从理论上讲对于同等像素尺寸，非晶硒比非晶硅探测器精度高。因为在X射线光电子转化为信号时，不产生散射和拖影现象。这些系统的缺点是，它们都是复杂的电子装置价格高，在使用和搬运过程中必须十分小心，而且对使用环境要求苛刻。

        探测器是直接X射线成像系统中核心的部分，它的特性决定了这个系统的成像质量。X光检测机为满足实际的检测要求，平板探测器的面积应足够大。对于较大的检测对象，可以摄取多个单幅图像，然后再将其拼接起来构成最终的全拼图影像。在成像速度、图像后处理、图像显示、图像传输及存储、图像分辨率和图像信息显示等方面具有明显优势。